各種粒度測試方法的優(yōu)勢和不足（一）

(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準確性好，可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點：分辨力較低。

(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點：操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準確性好，可測量大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點：不能分析細顆粒（如 <2μm），儀器成本較高。

(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點：成本較低、圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。 缺點：操作復(fù)雜，分析速度慢，無法分析細顆粒（如 <2μm）。

(4) 電鏡法：優(yōu)點：能分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點：代表性差、儀器價格昂貴。