顯微圖像顆粒測(cè)試原理

通過對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒投影所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等圓面積，從而得到顆粒的等圓面積直徑，進(jìn)而得到粒度分布，還能通過長(zhǎng)徑，短徑計(jì)算出長(zhǎng)徑比和球形度等粒形參數(shù)。

圖像顆粒分析系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD 攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。

具有直觀、形象、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)，不僅可以用來觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、平均長(zhǎng)徑比以及長(zhǎng)徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。